網(wǎng)絡研討會|SEM/TEM離子束制樣新技術：離子研磨儀，離子精修儀，離子減薄儀

隨著電子顯微技術的不斷進步，如何高效、精確地制備高質量的薄片已成為材料科學和納米技術領域的重要議題。作為一種常用的薄片制備方法，聚焦離子束（FIB）技術雖被廣泛應用，但在使用過程中會涉及到高能離子及 Ga 的使用，這可能引入不必要的離子注入。為了克服這一局限性，寬離子束（BIB）技術逐漸受到關注，并展現(xiàn)出其在降低損傷、提高樣品質量方面的優(yōu)勢。

為了更好地理解和應用 BIB 技術，我們誠摯邀請您參加本次專題研討會。

Part.1.會議詳情

會議時間

2025 年 10 月 17 日（周五）10:00-12:00

參與方式

線上參會

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我們期待您的參與，共同探討前沿技術，攜手推動材料科學的創(chuàng)新發(fā)展！參與網(wǎng)絡研討會，直播間互動，還將會有精品禮品相送哦！

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