飛納電鏡彩色成像技術(shù)

飛納電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實(shí)時(shí)疊加，在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。

實(shí)時(shí)分析獲取更深層的信息 所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復(fù)雜的，對(duì)于產(chǎn)品故障分析和污染物識(shí)別等應(yīng)用，研發(fā) 需要不斷改進(jìn)質(zhì)量控制（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解決出現(xiàn)的問題。 ChemiSEM 技術(shù)的實(shí)時(shí)分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了優(yōu)勢(shì)。它的 EDS 集成在儀器中，并在電鏡工作時(shí)始終在后臺(tái)收集成分?jǐn)?shù)據(jù)，逐步建立樣品更全面和詳 細(xì)的信息，幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問題。實(shí)時(shí)定量面掃：不再有

實(shí)時(shí)定量面掃：不再有分析干擾 傳統(tǒng)的元素分析中，復(fù)雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時(shí)得到精確的結(jié)果。例 如，一個(gè)峰的信號(hào)有時(shí)會(huì)被識(shí)別為兩個(gè)元素，產(chǎn)生錯(cuò)誤，干擾樣品QC 問題的判斷。 憑借創(chuàng)新的算法和智能光譜擬合，ChemiSEM 技術(shù)可以幫助您的實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊(duì)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的 元素識(shí)別和量化—— 即使在處理多個(gè)重疊元素時(shí)也是如此。

?

ChemiSEM 定量面掃：飛納電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM 自動(dòng)處理原始信號(hào)，生成定量面掃結(jié)果。數(shù)據(jù)被很好地解析，能夠有效避免和 峰和重疊峰的影響。并且使用算法同時(shí)處理 BSE（背散射電子）和 EDS 信號(hào)，從而可以實(shí)時(shí)顯示樣品的形態(tài)和 元素定量結(jié)果。

無偏差相分析 傳統(tǒng)的相分析高度依賴于對(duì)樣品的假設(shè)，當(dāng)存在譜峰重疊或強(qiáng)度不足而遺漏了元素時(shí)， 這可能會(huì)是一個(gè)問題。 有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技術(shù)中的一項(xiàng)新功能）后，可以避免這種情況。復(fù)雜樣 品的分析能夠做到無偏差，可以基于數(shù)據(jù)單元中所有光譜結(jié)果，系統(tǒng)地識(shí)別每個(gè)獨(dú) 立的相。隨后，數(shù)據(jù)分析可以在沒有任何元素預(yù)定義的情況下自動(dòng)運(yùn)行，無需豐富經(jīng)驗(yàn) 即可定位次要/微量元素，明確識(shí)別主要和次要成分，完成更深入、更全面的分析。

?

使用 ChemiPhase 對(duì)地質(zhì)切片的分析，每個(gè)相的能譜成分被自動(dòng)提取和計(jì)算，可以將不同礦物相有效區(qū)分。

自動(dòng)樣品漂移校正 成分分析過程中，準(zhǔn)確和有效的定量結(jié)果需要一個(gè)正確且穩(wěn)定的樣品位置信息。 通常在圖像漂移的情況下，研究人員需要多次重新獲取分析數(shù)據(jù)，或者等待樣品停止漂 移后再獲取數(shù)據(jù)，這兩種方式都會(huì)降低測(cè)試效率。 通過不斷監(jiān)控樣品位置，ChemiSEM 軟件提供自動(dòng)樣品漂移校正，使高倍率操作和較長 時(shí)間的能譜采集成為可能。幫助大家節(jié)省寶貴的時(shí)間和精力，專注于更重要的事情：盡 快獲取最高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。